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DX 400 比表面积分析仪
比表面积是表征微纳米粉体材料表面物性重要指标之一,常用的测定方法是氮吸附法。动态氮吸附法测定比表面积广泛应用于工业中生产线上产品的快速检测。精微高博公司发明专利仪器DX400比表面积分析仪,测试准确
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比表面积积孔径分析仪
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动态法陶粒比表面分析仪JW-DX
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靶材比表面积快速分析仪 JWGB-DX
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动态比表面积测试仪JWGB-DX01/DX02
动态比表面积测试仪 JW-DX型动态吸附bet比表面积仪,JW发明专利,创新的结构,每个样品单独吸附,互不干扰,吸附峰尖锐,灵敏度大大提高,通过吸附峰直接对比得到比表面,测试准确、稳定,比表面
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化肥比表面快速测试仪JW-DX
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陶瓷比表面快速测试仪JW-DX
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3500 Dx/3500XL Dx 基因分析仪
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稀土材料比表面快速测试仪JW-DX
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金属粉比表面快速测试仪JWGB-DX
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